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有機(jī)發(fā)光膜厚儀免稅價格不管您參與對顯示器的基礎(chǔ)研究還是制造，F(xiàn)ilmetrics 都能夠提供您所需要的...測量液晶層- 聚酰亞胺,、硬涂層,、液晶、間隙測量有機(jī)發(fā)光二極管層- 發(fā)光,、電注入,、緩沖墊、封裝對于空白樣品,，我們建議使用 F20 系列儀器,。 對于圖案片，F(xiàn)ilmetrics的F40用于測量薄膜厚度已經(jīng)找到了顯示器應(yīng)用***使用,。 測量范例此案例中,，我們成功地測量了藍(lán)寶石和硼硅玻璃基底上銦錫氧化物薄膜厚度。與Filmetrics專有的ITO擴(kuò)散模型結(jié)合的F10-RTA-EXR儀器,，可以很容易地在380納米到1700納米內(nèi)同時測量透射率和反射率以確定厚度,，折射率,，消光系數(shù)。由于ITO薄膜在各種基底上不同...
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Filmetrics F3-SX膜厚儀
F54自動化薄膜測繪Filmetrics F54 系列的產(chǎn)品能以一個電動R-Theta 平臺自動移動到選定的測量點(diǎn)以每秒測繪兩個點(diǎn)的速度快速的測繪薄膜厚度, 樣品直徑達(dá)450毫米 可選擇數(shù)十種內(nèi)建之同心圓,矩形,或線性圖案模式,或自行建立無數(shù)量限制之測量點(diǎn).*需具備基本電腦技能的任何人可在數(shù)分鐘內(nèi)自行建立配方 F54 自動化薄膜測繪只需聯(lián)結(jié)設(shè)備到您運(yùn)行Windows?系統(tǒng)計算機(jī)的USB端口, 可在幾分鐘輕松設(shè)置 不同的型號主要是由厚度和波長范圍作為區(qū)別,。通常較薄的膜需要較短波長作測量(如F54-UV) 用來測量較薄的膜,而較長的波長可以用來測量更厚,，更粗糙，或更不透明的薄...
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反射率膜厚儀生產(chǎn)國
接觸探頭測量彎曲和難測的表面 CP-1-1.3測量平面或球形樣品,，結(jié)實(shí)耐用的不銹鋼單線圈,。 CP-1-AR-1.3可以抑 制背面反射，對 1.5mm 厚的基板可抑 制 96%,。 鋼制單線圈外加PVC涂層,，比較大可測厚度 15um。 CP-2-1.3用于探入更小的凹表面,，直徑 17.5mm,。 CP-C6-1.3探測直徑小至 6mm 的圓柱形和球形樣品外側(cè)。 CP-C12-1.3用于直徑小至 12mm 圓柱形和球形樣品外側(cè),。 CP-C26-1.3用于直徑小至 26mm 圓柱形和球形樣品外側(cè),。 CP-BendingRod-L350-2彎曲長度 300mm...
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Filmetrics F60膜厚儀技術(shù)服務(wù)
備用光源： LAMP-TH1-5PAK：F10、F20,、F30,、F40、F50,、和 F60 系統(tǒng)的非紫外光源,。 5個/盒。1200 小時平均無故障,。 LAMP-TH：F42F42 系統(tǒng)的光源,。 1000 小時平均無故障。 LAMP-THF60：F60 系統(tǒng)的光源,。 1000 小時平均無故障,。 LAMP-THF80：F80 系統(tǒng)的光源。 1000 小時平均無故障,。 LAMP-D2-L10290：L10290 氘光源,。 2007年到2014年F20-UV的使用者。 LAMP-TH-L10290：L10290 鎢鹵素光源,。 2007年到2014年F20-UV的...
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有機(jī)發(fā)光膜厚儀鍍膜行業(yè)
更可加裝至三個探頭,，同時測量三個樣品，具紫外線區(qū)或標(biāo)準(zhǔn)波長可供選擇,。F40:這型號安裝在任何顯微鏡外,，可提供*小5um光點(diǎn)(100倍放大倍數(shù))來測量微小樣品。F50:這型號配備全自動XY工作臺，由8"x8"到18"x18"或客戶提供所需尺寸均可,。通過快速掃瞄功能,，可取得整片樣品厚度分布情況(mapping)。F70:*通過在F20基本平臺上增加鏡頭,，使用Filmetrics*新的顏色編碼厚度測量法（CTM）,，把設(shè)備的測量范圍極大的拓展至。F10-RT：在F20實(shí)現(xiàn)反射率跟穿透率的同時測量,，特殊光源設(shè)計特別適用于透明基底樣品的測量,。PARTS：在垂直入射光源基礎(chǔ)上增加70o光源，特別適用...
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Filmetrics F-HC膜厚儀有誰在用
F50 系列自動化薄膜測繪Filmetrics F50 系列的產(chǎn)品能以每秒測繪兩個點(diǎn)的速度快速的測繪薄膜厚度,。一個電動R-Theta 平臺可接受標(biāo)準(zhǔn)和客制化夾盤,，樣品直徑可達(dá)450毫米。(耐用的平臺在我們的量產(chǎn)系統(tǒng)能夠執(zhí)行數(shù)百萬次的量測!) 測繪圖案可以是極座標(biāo),、矩形或線性的,，您也可以創(chuàng)造自己的測繪方法，并且不受測量點(diǎn)數(shù)量的限制,。內(nèi)建數(shù)十種預(yù)定義的測繪圖案,。 不同的 F50 儀器是根據(jù)波長范圍來加以區(qū)分的。 標(biāo)準(zhǔn)的 F50是很受歡迎的產(chǎn)品,。 一般較短的波長 (例如,， F50-UV) 可用于測量較薄的薄膜，而較長的波長則可以用來測量更厚,、更不平整以及更不透明的薄膜,。 采用Mich...
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光學(xué)鍍膜膜厚儀有哪些品牌
Total Thickness Variation (TTV) 應(yīng)用 規(guī)格: 測量方式: 紅外干涉(非接觸式) 樣本尺寸: 50、75,、100,、200、300 mm,， 也可以訂做客戶需要的產(chǎn)品尺寸 測量厚度: 15 — 780 μm (單探頭) 3 mm (雙探頭總厚度測量) 掃瞄方式: 半自動及全自動型號, 另2D/3D掃瞄(Mapping)可選 襯底厚度測量: TTV、平均值,、*小值,、*大值、公差... 可選粗糙度: 2...
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廣東膜厚儀有哪些應(yīng)用
F10-AR易于使用而且經(jīng)濟(jì)有效地分析減反涂層和鏡頭上的硬涂層F10-AR 是測試眼科減反涂層設(shè)計的儀器,。 雖然價格**低于當(dāng)今絕大多數(shù)同類儀器,，應(yīng)用幾項(xiàng)技術(shù)， F10-AR 使線上操作人員經(jīng)過幾分鐘的培訓(xùn),，就可以進(jìn)行厚度測量,。 在用戶定義的任何波長范圍內(nèi)都能進(jìn)行比較低、比較高和平均反射測試。 我們有專門的算法對硬涂層的局部反射失真進(jìn)行校正,。 我們獨(dú)有的 AutoBaseline 能極大地增加基線間隔,，提供比其它光纖探頭反射儀高出五倍的精確度。 利用可選的 UPG-F10-AR-HC 軟件升級能測量 0.25-15um 的硬涂層厚度,。 在減反層存在的情況下也能對硬涂層厚...
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光刻膠膜厚儀鍍膜行業(yè)
F54自動化薄膜測繪Filmetrics F54 系列的產(chǎn)品能以一個電動R-Theta 平臺自動移動到選定的測量點(diǎn)以每秒測繪兩個點(diǎn)的速度快速的測繪薄膜厚度, 樣品直徑達(dá)450毫米 可選擇數(shù)十種內(nèi)建之同心圓,矩形,或線性圖案模式,或自行建立無數(shù)量限制之測量點(diǎn).*需具備基本電腦技能的任何人可在數(shù)分鐘內(nèi)自行建立配方 F54 自動化薄膜測繪只需聯(lián)結(jié)設(shè)備到您運(yùn)行Windows?系統(tǒng)計算機(jī)的USB端口, 可在幾分鐘輕松設(shè)置 不同的型號主要是由厚度和波長范圍作為區(qū)別,。通常較薄的膜需要較短波長作測量(如F54-UV) 用來測量較薄的膜,而較長的波長可以用來測量更厚，更粗糙,，或更不透明的薄...
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透明導(dǎo)電氧化物膜厚儀免稅價格
顯微鏡轉(zhuǎn)接器F40 系列轉(zhuǎn)接器,。 Adapter-BX-Cmount該轉(zhuǎn)接器將 F40 接到 OlympusBX 或 MX 上而不必使用 Olympus 價格較貴的 c-mount 轉(zhuǎn)接器。MA-Cmount-F20KIT該轉(zhuǎn)接器將F20連接到顯微鏡上 (模仿 F40,，光敏度低 5 倍),，包括集成攝像機(jī)、光纖,、TS-Focus-SiO2-4-10000 厚度標(biāo)準(zhǔn),、F40 軟件，和 F40 手冊,。 軟件升級： UPG-RT-to-Thickness升級的厚度求解軟件,，需要UPG-Spec-to-RT。UPG-Thickness-to-n&k升級的折射率求解軟件,，需要UPG-...
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晶圓膜厚儀價格怎么樣
FSM 8018 VITE測試系列設(shè)備 VITE技術(shù)介紹： VITE是傅里葉頻域技術(shù),，利用近紅外光源的相位剪切技術(shù)（Phase shear technology） 設(shè)備介紹 適用于所有可讓近紅外線通過的材料：硅、藍(lán)寶石,、砷化鎵,、磷化銦、碳化硅,、玻璃,、石 英、聚合物………… 應(yīng)用: 襯底厚度(不受圖案硅片,、有膠帶,、凹凸或者粘合硅片影響) 平整度 厚度變化 (TTV) 溝槽深度 過孔尺寸、深度,、側(cè)壁角度 粗糙度 薄膜厚度 不同半導(dǎo)體材料的厚度 環(huán)氧樹脂厚度 ...
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膜厚儀膜厚儀國內(nèi)代理
軟件升級提供專門用途的軟件,。UPG-RT-to-Thickness升級的厚度求解軟件，需要UPG-Spec-to-RT,。UPG-Thickness-to-n&k升級的折射率求解軟件,，需要UPG-RT-to-Thickness。UPG-F10-AR-HC為F10-AR升級的FFT硬涂層厚度測量軟件,。包括TS-Hardcoat-4um厚度標(biāo)準(zhǔn),。厚度測量范圍。UPG-RT-to-Color&Regions升級的色彩與光譜區(qū)域分析軟件，需要UPG-Spec-to-RT,。 其他：手提電腦手提電腦預(yù)裝FILMeasure軟件,、XP和Microsoft辦公軟件。電腦提箱用于攜帶F10,、F2...
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Filmetrics F20膜厚儀質(zhì)量怎么樣
自動厚度測量系統(tǒng)幾乎任何形狀的樣品厚度和折射率的自動測繪,。人工加載或機(jī)器人加載均可。 在線厚度測量系統(tǒng)監(jiān)測控制生產(chǎn)過程中移動薄膜厚度,。高達(dá)100 Hz的采樣率可以在多個測量位置得到,。 附件Filmetrics 提供各種附件以滿足您的應(yīng)用需要。 F20 系列世界上****的臺式薄膜厚度測量系統(tǒng)只需按下一個按鈕,，您在不到一秒鐘的同時測量厚度和折射率,。設(shè)置同樣簡單, 只需插上設(shè)備到您運(yùn)行Windows?系統(tǒng)計算機(jī)的USB端口, 并連接樣品平臺 , F20已在世界各地有成千上萬的應(yīng)用被使用. 事實(shí)上，我們每天從我們的客戶學(xué)習(xí)更多的應(yīng)用. 選擇您的F20主要取決於您...
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薄膜測厚儀膜厚儀現(xiàn)場服務(wù)
F54自動化薄膜測繪Filmetrics F54 系列的產(chǎn)品能以一個電動R-Theta 平臺自動移動到選定的測量點(diǎn)以每秒測繪兩個點(diǎn)的速度快速的測繪薄膜厚度, 樣品直徑達(dá)450毫米 可選擇數(shù)十種內(nèi)建之同心圓,矩形,或線性圖案模式,或自行建立無數(shù)量限制之測量點(diǎn).*需具備基本電腦技能的任何人可在數(shù)分鐘內(nèi)自行建立配方 F54 自動化薄膜測繪只需聯(lián)結(jié)設(shè)備到您運(yùn)行Windows?系統(tǒng)計算機(jī)的USB端口, 可在幾分鐘輕松設(shè)置 不同的型號主要是由厚度和波長范圍作為區(qū)別,。通常較薄的膜需要較短波長作測量(如F54-UV) 用來測量較薄的膜,而較長的波長可以用來測量更厚,，更粗糙，或更不透明的薄...
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美國進(jìn)口膜厚儀原理
F3-sX 系列： F3-sX 系列能測量半導(dǎo)體與介電層薄膜厚度到3毫米,而這種較厚的薄膜與較薄的薄膜相比往往粗糙且均勻度較為不佳 波長選配F3-sX系列使用近紅外光來測量薄膜厚度,，即使有許多肉眼看來不透光(例如半導(dǎo)體),。 F3-s980 是波長為980奈米的版本，是為了針對成本敏銳的應(yīng)用而設(shè)計,F3-s1310是針對重?fù)诫s硅片的**jia化設(shè)計,F3-s1550則是為了**厚的薄膜設(shè)計,。附件附件包含自動化測繪平臺,，一個影像鏡頭可看到量測點(diǎn)的位置以及可選配可見光波長的功能使厚度測量能力**薄至15奈米。 FSM413SP半自動機(jī)臺人工取放芯片,。美國進(jìn)口膜厚儀原理 F54自動化薄膜測...
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液晶顯示膜厚儀學(xué)校會用嗎
Filmetrics 的技術(shù)Filmetrics 提供了范圍***的測量生物醫(yī)療涂層的方案：支架： 支架上很小的涂層區(qū)域通常需要顯微鏡類的儀器,。 我們的 F40 在幾十個實(shí)驗(yàn)室內(nèi)得到使用，測量鈍化和/或藥 物輸送涂層,。我們有獨(dú)特的測量系統(tǒng)對整個支架表面的自動厚度測繪,，只需在測量時旋轉(zhuǎn)支架。植入件： 在測量植入器件的涂層時,，不規(guī)則的表面形狀通常是***挑戰(zhàn),。 Filmetrics 提供這一用途的全系列探頭。導(dǎo)絲和導(dǎo)引針： 和支架一樣,，這些器械常?？梢杂孟?F40 這樣的顯微鏡儀器。導(dǎo)液管和血管成型球囊的厚度:大于 100 微米的厚度和可見光譜不透明性決定了 F20-NIR 是這一用途方面全世界眾...
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光干涉膜厚儀競爭力怎么樣
FSM 360 拉曼光譜系統(tǒng) FSM紫外光和可見光拉曼系統(tǒng), 型號360 FSM拉曼的應(yīng)用 l 局部應(yīng)力,； l 局部化學(xué)成分 l 局部損傷 紫外光可測試的深度 ***的薄膜（SOI 或 Si-SiGe）或者厚樣的近表面局部應(yīng)力 可見光可測試的深度 良好的厚樣以及多層樣品的局部應(yīng)力 系統(tǒng)測試應(yīng)力的精度小于15mpa (0.03cm-1) 全自動的200mm和300mm硅片檢查 自動檢驗(yàn)和聚焦的能力。 以上的信息比較有限,，如果您有更加詳細(xì)的技術(shù)問題,，請聯(lián)系我們的技術(shù)人員為您解答。或者訪問...
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半導(dǎo)體膜厚儀生產(chǎn)國
F40 系列將您的顯微鏡變成薄膜測量工具F40 產(chǎn)品系列用于測量小到 1 微米的光斑,。 對大多數(shù)顯微鏡而言,，F(xiàn)40 能簡單地固定在 c 型轉(zhuǎn)接器上，這樣的轉(zhuǎn)接器是顯微鏡行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)配件,。 F40 配備的集成彩色攝像機(jī),，能夠?qū)y量點(diǎn)進(jìn)行準(zhǔn)確監(jiān)控。 在 1 秒鐘之內(nèi)就能測定厚度和折射率,。 像我們所有的臺式儀器一樣,，F(xiàn)40 需要連接到您裝有 Windows 計算機(jī)的 USB 端口上并在數(shù)分鐘內(nèi)完成設(shè)定。 F40：20nm-40μm 400-850nm F40-EXR：20nm-120μm 400-1700nm F40-NIR：40nm-120μm 950-1700nm ...
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實(shí)驗(yàn)室膜厚儀自動化測量
其可測量薄膜厚度在1nm到1mm之間,，測量精度高達(dá)1埃,，測量穩(wěn)定性高達(dá)，測量時間只需一到二秒,并有手動及自動機(jī)型可選,?？蓱?yīng)用領(lǐng)域包括：生物醫(yī)學(xué)（Biomedical）,液晶顯示(Displays),硬涂層(Hardcoats),金屬膜(Metal),眼鏡涂層(Ophthalmic),聚對二甲笨(Parylene),電路板(PCBs&PWBs),多孔硅(PorousSilicon),光阻材料(ThickResist),半導(dǎo)體材料(Semiconductors),太陽光伏(Solarphotovoltaics),真空鍍層(VacuumCoatings),圈筒檢查(Webinspection...
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光干涉膜厚儀質(zhì)量怎么樣
Filmetrics 的技術(shù)Filmetrics 提供了范圍***的測量生物醫(yī)療涂層的方案：支架： 支架上很小的涂層區(qū)域通常需要顯微鏡類的儀器。 我們的 F40 在幾十個實(shí)驗(yàn)室內(nèi)得到使用,，測量鈍化和/或藥 物輸送涂層,。我們有獨(dú)特的測量系統(tǒng)對整個支架表面的自動厚度測繪，只需在測量時旋轉(zhuǎn)支架,。植入件： 在測量植入器件的涂層時,，不規(guī)則的表面形狀通常是***挑戰(zhàn)。 Filmetrics 提供這一用途的全系列探頭,。導(dǎo)絲和導(dǎo)引針： 和支架一樣,，這些器械常常可以用象 F40 這樣的顯微鏡儀器,。導(dǎo)液管和血管成型球囊的厚度:大于 100 微米的厚度和可見光譜不透明性決定了 F20-NIR 是這一用途方面全世界眾...
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ITO膜厚儀出廠價
F10-ARc: 走在前端 以較低的價格現(xiàn)在可以很容易地測量曲面樣品,，包括眼鏡和其他光學(xué)鏡片的防反射涂層, *需其他設(shè)備一小部分的的價格就能在幾秒內(nèi)得到精確的色彩讀值和反射率測量. 您也可選擇升級薄膜厚度測量軟件, 操作上并不需要嚴(yán)格的訓(xùn)練, 您甚至可以直覺的藉由設(shè)定任何波長范圍之比較大, **小和平均值.去定義顏色和反射率的合格標(biāo)準(zhǔn). 容易設(shè)定. 易於維護(hù).只需將F10-ARc插上到您計算機(jī)的USB端口, 感謝Filmetrics的創(chuàng)新, F10-ARc 幾乎不存在停機(jī)時間, 加上40,000小時壽命的光源和自動板上波長校準(zhǔn)，你不需擔(dān)心維護(hù)問題,。 F20-UV測厚范圍：1nm ...
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湖北膜厚儀售后服務(wù)
測量有機(jī)發(fā)光顯示器有機(jī)發(fā)光顯示器 (OLEDs)有機(jī)發(fā)光顯示器正迅速從實(shí)驗(yàn)室轉(zhuǎn)向大規(guī)模生產(chǎn),。明亮，超薄,，動態(tài)的特性使它們成為從手機(jī)到電視顯示屏的優(yōu)先,。組成顯示屏的多層薄膜的精密測量非常重要，但不能用傳統(tǒng)接觸型的輪廓儀,，因?yàn)樗鼤茐娘@示屏表面,。我們的F20-UV，F(xiàn)40-UV,，和F10-RT-UV將提供廉價,，可靠,，非侵入測量原型裝置和全像素化顯示屏。我們的光譜儀還可以測量大氣敏感材料的化學(xué)變化,。 測量透明導(dǎo)電氧化膜不論是銦錫氧化物,，氧化鋅，還是聚合物（3,4-乙烯基）,，我們獨(dú)有的ITO光學(xué)模型,，加上可見/近紅外儀器，可以測得厚度和光學(xué)常數(shù),，費(fèi)用和操作難度*是光譜橢偏儀的一小部分,。 一...
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Filmetrics F3-SX膜厚儀**測試樣品
F10-AR 無須處理涂層背面我們探頭設(shè)計能抑 制 1.5mm 厚基板 98% 的背面反射，使用更厚的鏡頭抑 制的更多,。 就像我們所有的臺式儀器一樣,，F(xiàn)10-AR 需要連接到您裝有 Windows 計算機(jī)的 USB 端口上并在數(shù)分鐘內(nèi)即可完成設(shè)定。 包含的內(nèi)容：集成光譜儀/光源裝置FILMeasure 8 軟件FILMeasure **軟件 (用于遠(yuǎn)程數(shù)據(jù)分析)CP-1-1.3 探頭BK7 參考材料整平濾波器 (用于高反射基板)備用燈 額外的好處：每臺系統(tǒng)內(nèi)建超過130種材料庫, 隨著不同應(yīng)用更超過數(shù)百種應(yīng)用工程師可立刻提供幫助（周一 - 周五）網(wǎng)上的 “手把手”...
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晶片膜厚儀價格怎么樣
光刻膠）polyerlayers（高分子聚合物層）polymide（聚酰亞胺）polysilicon（多晶硅）amorphoussilicon（非晶硅）基底實(shí)例：對于厚度測量,，大多數(shù)情況下所要求的只是一塊光滑,、反射的基底。對于光學(xué)常數(shù)測量,，需要一塊平整的鏡面反射基底,；如果基底是透明的，基底背面需要進(jìn)行處理使之不能反射,。包括：silicon（硅）glass（玻璃）aluminum（鋁）gaas（砷化鎵）steel（鋼）polycarbonate（聚碳酸脂）polymerfilms（高分子聚合物膜）應(yīng)用半導(dǎo)體制造液晶顯示器光學(xué)鍍膜photoresist光刻膠oxides氧化物nitride...
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液晶顯示膜厚儀高性價比選擇
F40 系列 包含的內(nèi)容：集成光譜儀/光源裝置FILMeasure 8 軟件FILMeasure **軟件 (用于遠(yuǎn)程數(shù)據(jù)分析)MA-Cmount 安裝轉(zhuǎn)接器 顯微鏡轉(zhuǎn)接器光纖連接線BK7 參考材料TS-Focus-SiO2-4-10000 厚度標(biāo)準(zhǔn) 聚焦/厚度標(biāo)準(zhǔn)BG-Microscope (作為背景基準(zhǔn)) 額外的好處：每臺系統(tǒng)內(nèi)建超過130種材料庫, 隨著不同應(yīng)用更超過數(shù)百種應(yīng)用工程師可立刻提供幫助（周一 - 周五）網(wǎng)上的 “手把手” 支持 (需要連接互聯(lián)網(wǎng))硬件升級計劃 如果需要了解更多的信息,，請?jiān)L問我們官網(wǎng)或者聯(lián)系我們。 可選的厚度和折射率模塊讓您能夠充分利用 F...
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導(dǎo)電氧化物膜厚儀技術(shù)服務(wù)
F30包含的內(nèi)容：集成光譜儀/光源裝置光斑尺寸10微米的單點(diǎn)測量平臺FILMeasure 8反射率測量軟件Si 參考材料FILMeasure **軟件 (用于遠(yuǎn)程數(shù)據(jù)分析) 額外的好處：每臺系統(tǒng)內(nèi)建超過130種材料庫, 隨著不同應(yīng)用更超過數(shù)百種應(yīng)用工程師可立刻提供幫助（周一 - 周五）網(wǎng)上的 “手把手” 支持 (需要連接互聯(lián)網(wǎng))硬件升級計劃 型號厚度范圍*波長范圍 F3-s 980:10μm - 1mm 960-1000nm F3-s1310:15μm - 2mm 1280-1340nm F3-s1550:25μm - 3mm 1520-1580nm ...
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原裝進(jìn)口膜厚儀研發(fā)可以用嗎
FSM 413SP AND FSM 413C2C 紅外干涉測量設(shè)備 適用于所有可讓紅外線通過的材料：硅,、藍(lán)寶石,、砷化鎵、磷化銦,、碳化硅,、玻璃、石 英,、聚合物………… 應(yīng)用: 襯底厚度(不受圖案硅片,、有膠帶、凹凸或者粘合硅片影響) 平整度 厚度變化 (TTV) 溝槽深度 過孔尺寸,、深度,、側(cè)壁角度 粗糙度 薄膜厚度 不同半導(dǎo)體材料的厚度 環(huán)氧樹脂厚度 襯底翹曲度 晶圓凸點(diǎn)高度(bump height) MEMS 薄膜測量 TSV 深度、...
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干涉膜厚儀24小時在線服務(wù)
厚度標(biāo)準(zhǔn)： 所有 Filmetrics 厚度標(biāo)準(zhǔn)都是得到驗(yàn)證可追溯的 NIST 標(biāo)準(zhǔn),。 S-Custom-NIST：在客戶提供的樣品上定制可追溯的 NIST 厚度校準(zhǔn),。 TS-Focus-SiO2-4-3100SiO2-on-Si ：厚度標(biāo)準(zhǔn)，外加調(diào)焦區(qū)和單晶硅基準(zhǔn),，厚度大約 3100A,，4" 晶圓,。 TS-Focus-SiO2-4-10000SiO2-on-Si ：厚度標(biāo)準(zhǔn)，外加調(diào)焦區(qū)和單晶硅基準(zhǔn),，厚度大約 10000A，4" 晶圓,。 TS-Hardcoat-4μm：丙烯酸塑料硬涂層厚度標(biāo)準(zhǔn),，厚度大約 4um，直徑 2",。 TS-Hardcoat-T...
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Filmetrics Profilm3D膜厚儀出廠價
光源用于一般用途應(yīng)用之光源 ***T2可用在Filmetrics設(shè)備的光源具有氘燈-鎢絲與遠(yuǎn)端控制的快門來取代舊款Hamamatsu D2光源LS-LED1具有高亮度白光LED的光源 光纖配件：CP-RepairToolKitCP-1-1.3 接觸探頭是相當(dāng)堅(jiān)固的,，但是光纖不能經(jīng)常被抽屜碰撞或者被椅子壓過。該套件包括指令,，以及簡單的維修工具,，新的和舊風(fēng)格的探頭。FO-PAT-SMA-SMA-200-22 米長,，直徑 200um 的光纖,， 兩端配備 SMA 接頭。FO-RP1-.25-SMA-200-1.32 米長,，分叉反射探頭,。 F10-AR在用戶定義的任何波長范圍內(nèi)都能進(jìn)行...
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聚對二甲苯膜厚儀24小時在線服務(wù)
其可測量薄膜厚度在1nm到1mm之間，測量精度高達(dá)1埃,，測量穩(wěn)定性高達(dá),，測量時間只需一到二秒,并有手動及自動機(jī)型可選?？蓱?yīng)用領(lǐng)域包括：生物醫(yī)學(xué)（Biomedical）,液晶顯示(Displays),硬涂層(Hardcoats),金屬膜(Metal),眼鏡涂層(Ophthalmic),聚對二甲笨(Parylene),電路板(PCBs&PWBs),多孔硅(PorousSilicon),光阻材料(ThickResist),半導(dǎo)體材料(Semiconductors),太陽光伏(Solarphotovoltaics),真空鍍層(VacuumCoatings),圈筒檢查(Webinspection...