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平面電機(jī)x-y步進(jìn)工作臺(tái)：平面電機(jī)由定子和動(dòng)子組成,，它和傳統(tǒng)的步進(jìn)電機(jī)相比其特殊性就是將定子展開，定子是基礎(chǔ)平臺(tái),，動(dòng)子和定子間有一層氣墊,，動(dòng)子浮于氣墊上，而可編程承片臺(tái)則安裝在動(dòng)子之上,。這種結(jié)構(gòu)的x-y工作臺(tái),，由于動(dòng)子和定子間無(wú)相對(duì)摩擦故無(wú)磨損，使用壽命長(zhǎng),。而定子在加工過程中生產(chǎn)廠家根據(jù)不同的設(shè)計(jì)要求如分辨力等,，用機(jī)加工的方法在一平面的鐵制鑄件上加工出若干個(gè)線槽，線槽間的距離即稱為平面電機(jī)的齒距,，而定子則按不同的細(xì)分控制方式,，按編制好的運(yùn)行程序借助于平面定子和動(dòng)子之間的氣墊才能實(shí)現(xiàn)步進(jìn)運(yùn)動(dòng)。某些針尖位置高的扎不上AL層,使測(cè)試時(shí)這些針上電路不通,。陜西芯片測(cè)試探針臺(tái)加工廠家高精度探針臺(tái)：目前世界...

半自動(dòng)型：chuck尺寸800mm/600mm,；X,Y電動(dòng)移動(dòng)行程200mm/150mm；chuck粗調(diào)升降9mm,，微調(diào)升降16mm,；可搭配MITUTOYO金相顯微鏡或者AEC實(shí)體顯微鏡；針座擺放個(gè)數(shù)6～8顆,；顯微鏡X-Y-Z移動(dòng)范圍2"x2"x2",；可搭配Probecard測(cè)試；適用領(lǐng)域：8寸/6寸Wafer,、IC測(cè)試之產(chǎn)品,。電動(dòng)型：chuck尺寸1200mm，平坦度土1u（不銹鋼或鍍金）,；X,Y電動(dòng)移動(dòng)行程300mmx300mm,；chuck粗調(diào)升降9mm，微調(diào)升降16mm,，微調(diào)精度土1u,；可搭配MITUTOYO晶像顯微鏡或者AEC實(shí)體顯微鏡；針座擺放個(gè)數(shù)8～12顆,；顯微鏡X-Y-Z移動(dòng)范圍...

據(jù)SEMI數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì),，2020年及2021年,，全球半導(dǎo)體測(cè)試設(shè)備市場(chǎng)規(guī)模或?qū)⒎謩e達(dá)到52.2億美元及56.1億美元,。隨著國(guó)內(nèi)半導(dǎo)體技術(shù)的發(fā)展,，多個(gè)晶圓廠及實(shí)驗(yàn)室的建立，國(guó)內(nèi)探針臺(tái)市場(chǎng)規(guī)模2019年約為10.25億元,，2022年將增長(zhǎng)到15.69億元,。隨著半導(dǎo)體行業(yè)的迅速發(fā)展，半導(dǎo)體產(chǎn)品的加工面積成倍縮小,，復(fù)雜程度與日俱增,，生產(chǎn)半導(dǎo)體產(chǎn)品所需的制造設(shè)備需要綜合運(yùn)用機(jī)械、光學(xué),、物理,、化學(xué)等學(xué)科技術(shù)，具有技術(shù)壁壘高,、制造難度大及研發(fā)投入高等特點(diǎn),。探針臺(tái)屬于重要的半導(dǎo)體測(cè)試裝備，在整個(gè)半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)的多個(gè)環(huán)節(jié)起著重要作用,，是晶圓廠和元器件封測(cè)企業(yè)的重要設(shè)備之一,。隨著自動(dòng)化技術(shù)的飛速發(fā)展，市場(chǎng)對(duì)自動(dòng)化探針臺(tái)需...

在工藝方面,，常用的測(cè)試探針是由針頭、針管,、彈簧這三個(gè)組件構(gòu)成的,，測(cè)試探針中的彈簧是測(cè)試探針使用壽命的關(guān)鍵因素，電鍍處理過的彈簧使用壽命高,，不會(huì)生銹,，也能提高測(cè)試探針是持久性和導(dǎo)電性。因此,，電鍍工藝是生產(chǎn)半導(dǎo)體測(cè)試探針的主要技術(shù),，而國(guó)內(nèi)的電鍍工藝尚且有待突破。長(zhǎng)期以來,，國(guó)內(nèi)探針廠商均處于中低端領(lǐng)域,，主要生產(chǎn)PCB測(cè)試探針、ICT測(cè)試探針等產(chǎn)品,?？傮w來說，只要好的芯片,、好的封測(cè)廠商才需要用到半導(dǎo)體測(cè)試探針,，只有國(guó)內(nèi)好的芯片和測(cè)試遍地開花,，整個(gè)產(chǎn)業(yè)足夠大，國(guó)產(chǎn)配套供應(yīng)商才能迅速成長(zhǎng)起來,。上海勤確科技有限公司以完善的服務(wù)和改變?yōu)橹辽献非?。陜西半自?dòng)探針臺(tái)哪里有自動(dòng)化探針臺(tái)搭配測(cè)試機(jī)能夠?qū)Τ鰪S晶圓片的電...

高精度探針臺(tái)：目前世界出貨量的型號(hào)吸收了很新的工藝科技例如OTS，QPU和TTG相關(guān)技術(shù),，這種全新的高精度系統(tǒng)為下一代小型化的設(shè)計(jì)及多種測(cè)試條件提供保證,。特性1：OTS-近的位置對(duì)正系統(tǒng)（光學(xué)目標(biāo)對(duì)準(zhǔn)）OTS通過對(duì)照相機(jī)相對(duì)位置的測(cè)量來保證其位置的精度。這是非常引人注目的技術(shù),，來源于精密的度量技術(shù),。OTS實(shí)現(xiàn)了以自己為參照的光學(xué)對(duì)準(zhǔn)系統(tǒng)。特性2：QPU-高剛性的硅片承載臺(tái)（四方型系統(tǒng)）為了有效的達(dá)到接觸位置的精度,，硅片承載臺(tái)各部分的剛性一致是非常重要的,，UF3000使用新的4軸機(jī)械轉(zhuǎn)換裝置（QPU），達(dá)到高剛性,，高穩(wěn)定度的接觸,。探針尖接觸電阻即探針尖與焊點(diǎn)之間接觸時(shí)的層間電阻。重慶芯片測(cè)試探針...

關(guān)于探針：探針實(shí)現(xiàn)同軸到共面波導(dǎo)轉(zhuǎn)換,，探針需要保證一致性和兼容性,，同時(shí)需要嚴(yán)格的控制其阻抗。板手動(dòng)探針臺(tái)在測(cè)試中非常受歡迎,。它是精密和靈活性的獨(dú)特組合,，可實(shí)現(xiàn)PCB的橫板或豎板的測(cè)量，并能擴(kuò)展成雙面PCB板測(cè)試系統(tǒng),，也可以根據(jù)客戶的PCB板尺寸定制可調(diào)式夾具,。搭配相應(yīng)探針座與高精度電源或網(wǎng)絡(luò)分析儀后，能夠輕松實(shí)現(xiàn)FA級(jí)別的直流參數(shù)提取或67G內(nèi)的射頻參數(shù)測(cè)量,。探針臺(tái)可根據(jù)用戶實(shí)驗(yàn),，選配DC、微波或光纖探針臂等,。上海勤確科技有限公司,。測(cè)試信號(hào)的完整性需要高質(zhì)量的探針接觸，這與接觸電阻（CRes）直接相關(guān),。浙江探針臺(tái)多少錢探針臺(tái)的分類：探針臺(tái)可以按照使用類型與功能來劃分,，也可以按照操作方式來劃分成...

滾珠絲杠副和導(dǎo)軌結(jié)構(gòu)x-y工作臺(tái)的維護(hù)與保養(yǎng)：由于運(yùn)動(dòng)部分全部采用滾動(dòng)功能部件，所以具有傳動(dòng)效率高,、摩擦力矩小，使用壽命長(zhǎng)等特點(diǎn),。這種結(jié)構(gòu)的工作臺(tái)應(yīng)放置在溫度23±3℃,，濕度≤70％,，無(wú)有害氣體的環(huán)境中，滾珠絲杠,、直線導(dǎo)軌應(yīng)定期加精密儀表油,，但不可過多，值得指出的是,，這種結(jié)構(gòu)的工作臺(tái)在裝配過程中,，從直線導(dǎo)軌的直線性，上下層工作臺(tái)之間的垂直度以及工作臺(tái)的重復(fù)性,，定位精度等都是用專業(yè)的儀器儀表調(diào)整,，用戶一般情況不能輕易改變，一旦盲目調(diào)整后很難恢復(fù)到原來的狀態(tài),，所以對(duì)需要調(diào)整的工作臺(tái)應(yīng)有專業(yè)生產(chǎn)廠家或經(jīng)過培訓(xùn)的專業(yè)人員完成,。探針臺(tái)測(cè)片子時(shí)，用細(xì)砂子輕輕打磨針尖并通以氮?dú)?，減緩氧化過程,。廣東直流探針臺(tái)...

探針臺(tái)市場(chǎng)逐年增長(zhǎng)：半導(dǎo)體測(cè)試對(duì)于良率和品質(zhì)控制至關(guān)重要，是必不可少的環(huán)節(jié),，主要涉及兩種測(cè)試（CP測(cè)試,、FT測(cè)試等）、三種設(shè)備（探針臺(tái),、測(cè)試機(jī),、分選機(jī)等）。根據(jù)半導(dǎo)體產(chǎn)線投資配置規(guī)律,，測(cè)試設(shè)備在半導(dǎo)體設(shè)備投資的占比約為8%,，次于晶圓制造裝備，其中測(cè)試機(jī),、分選機(jī)、探針臺(tái)的占比分別為63.10%,、17.40%,、15.20%。中國(guó)半導(dǎo)體市場(chǎng)飛速增長(zhǎng),。在全球貿(mào)易摩擦背景下,，半導(dǎo)體行業(yè)國(guó)產(chǎn)化率提高成為必然趨勢(shì)，國(guó)內(nèi)半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)的投資規(guī)模持續(xù)擴(kuò)大,。上海勤確科技有限公司您的滿意就是對(duì)我們的支持,。遼寧智能探針臺(tái)哪里有探針臺(tái)由哪些部分組成？樣品臺(tái)（載物臺(tái)）：是定位晶圓或芯片的部件設(shè)備,。通常會(huì)根據(jù)晶圓的尺寸來設(shè)計(jì)大...

其實(shí),，在我們的身邊隨處都可以看到半導(dǎo)體的身影,。例如你的電腦、電視,，智能手機(jī),，亦或是汽車等。半導(dǎo)體像人類大腦一樣,，擔(dān)當(dāng)著記憶數(shù)據(jù),，計(jì)算數(shù)值的功能。探針臺(tái)從操作上來區(qū)分有手動(dòng),，半自動(dòng),，全自動(dòng)從功能上來區(qū)分有高溫探針臺(tái)，低溫探針臺(tái),，RF探針臺(tái),，LCD平板探針臺(tái)，霍爾效應(yīng)探針臺(tái),，表面電阻率探針臺(tái),。一、探針的用途,。電流或電壓信號(hào)通過探針的傳輸來測(cè)試線路板的開路（Open）或短路（Short）I=U/R,，如果是開路（Open）電阻＝∝：如果是短路（Short）電阻≌0。典型的探針卡是一個(gè)帶有很多細(xì)針的印刷電路板,。山西探針臺(tái)廠家晶圓級(jí)半自動(dòng)面內(nèi)磁場(chǎng)探針臺(tái)詳細(xì)參數(shù)：垂直或面內(nèi)磁場(chǎng)探針臺(tái),，通用性設(shè)計(jì)；容納12寸...

探針（探針卡）：待測(cè)芯片需要測(cè)試探針的連接,，才能與測(cè)試儀器建立連接,。常見的有普通DC測(cè)試探針、同軸DC測(cè)試探針,、有源探針和微波探針等,。探針頭插入單個(gè)探針臂并安裝在操縱器上。探針尖銳端尺寸和材料取決于被探測(cè)特征的尺寸和所需的測(cè)量類型,。探針尖直接接觸被測(cè)件,，探針臂應(yīng)與探針尖匹配。探針夾具及電纜組件：探針夾具用于夾持探針,、并將探針連接至測(cè)量?jī)x器,。電纜組件用于轉(zhuǎn)接、延展探針夾具上的電纜組件,。操縱器（定位器）：探針臺(tái)使用操縱器將探針放置在被測(cè)物上,，它可以很容易地定位探針并快速固定它們。通常使用磁鐵或真空把它們固定在適當(dāng)?shù)奈恢谩Ｒ坏┕潭?，操縱器可以在X,、Y和Z方向上精確定位探針尖銳端，并且在某些情況下提供...

12英寸晶圓在結(jié)構(gòu)上具有更高的效率,，以200mm工藝為例,，在良率100%的情況下，可出88個(gè)完整的晶粒,，理論上因方塊切割所造成的邊緣浪費(fèi)率為23%(約有20個(gè)晶粒因缺角破損而無(wú)法使用),；而若以300mm工藝進(jìn)行切割，則產(chǎn)出效率將更驚人,，可產(chǎn)出193個(gè)完整的晶粒,，會(huì)浪費(fèi)19%的晶圓面積(36個(gè)不完整晶粒)。此外,，12英寸廠的規(guī)模經(jīng)濟(jì)優(yōu)勢(shì)也不容小視,；300mm的建廠成本與200mm的建廠成本比值約為1.5，而晶圓廠建廠成本與晶圓面積的比值卻少于2.25,，這意味著只要多投入1.5倍的建廠成本,，即可多生產(chǎn)2.25倍的晶粒！少少的邊際投入即可獲取的收益,，約可節(jié)省33%的成本,；如此高報(bào)酬的投資效益隨著技術(shù)...

探針臺(tái)為研究和工程實(shí)驗(yàn)室在測(cè)試運(yùn)行期間移動(dòng)通過多個(gè)溫度點(diǎn)時(shí)，提供前所未有的自動(dòng)化水平,。這種新技術(shù)使探針系統(tǒng)能夠感知,，學(xué)習(xí)和反應(yīng)以多溫度和特征的極其復(fù)雜的環(huán)境。隨著集成電路產(chǎn)品不斷進(jìn)入汽車應(yīng)用等更高發(fā)熱量的環(huán)境,，在越來越寬的溫度范圍內(nèi)表征器件性能和耐用性變得越來越重要,。以前，大多數(shù)芯片在兩個(gè)溫度點(diǎn)進(jìn)行晶圓級(jí)測(cè)試,，通常為20?C（室溫）和90?C?，F(xiàn)在，該范圍已經(jīng)擴(kuò)大到-40?C至125?C,，并且可能需要在此范圍內(nèi)的四個(gè)溫度步驟中進(jìn)行一整套測(cè)試,。某些情況下需要更普遍的范圍，如-55?C至200?C,，晶圓可靠性測(cè)試可能要求高達(dá)300?C的溫度,。系統(tǒng)在測(cè)試每個(gè)芯片的時(shí)候?qū)π酒暮脡呐c否進(jìn)行判斷,，發(fā)出合...

晶圓測(cè)試基本的一點(diǎn)就是：晶圓測(cè)試必須能夠辨別芯片的好壞,，并使合格芯片繼續(xù)進(jìn)入下面的封裝工藝。為了確保芯片功能和成品率的有效測(cè)試，封裝廠商和設(shè)備制造者需要不斷探索,，進(jìn)而找到高精度,、高效率和低成本的測(cè)試方法，并運(yùn)用新的組裝工藝要求對(duì)晶圓片進(jìn)行探測(cè),，這些要求將引起設(shè)備和工藝過程的重大變化,。探針臺(tái)從操作上來區(qū)分有：手動(dòng)，半自動(dòng),，全自動(dòng),，從功能上來區(qū)分有：溫控探針臺(tái)，真空探針臺(tái)（低溫探針臺(tái)）,，RF探針臺(tái),，LCD平板探針臺(tái)，霍爾效應(yīng)探針臺(tái),，表面電阻率探針臺(tái),。我們通過探針卡把測(cè)試儀和被測(cè)芯片連接起來。江西芯片探針臺(tái)哪家好探針臺(tái)可以固定晶圓或芯片,，并精確定位待測(cè)物,。手動(dòng)探針臺(tái)的使用者將探針臂和探針安裝到操縱器...

探針臺(tái)將參數(shù)特性不符合要求的芯片記錄下來，在進(jìn)入后序工序前予以剔除,，極大降低器件的制造成本,。探針臺(tái)主要用于晶圓制造環(huán)節(jié)的晶圓檢測(cè)、芯片研發(fā)和故障分析等應(yīng)用,。半導(dǎo)體測(cè)試可以按生產(chǎn)流程可以分為三類：驗(yàn)證測(cè)試,、晶圓測(cè)試測(cè)試、封裝檢測(cè),。晶圓檢測(cè)環(huán)節(jié)需要使用測(cè)試儀和探針臺(tái),，測(cè)試儀/機(jī)用于檢測(cè)芯片功能和性能，探針臺(tái)實(shí)現(xiàn)被測(cè)芯片與測(cè)試機(jī)的連接,，通過探針臺(tái)和測(cè)試機(jī)的配合使用對(duì)晶圓上的裸芯片進(jìn)行功能和電參數(shù)測(cè)試或射頻測(cè)試,，可以對(duì)芯片的良品、不良品的進(jìn)行篩選,。探針臺(tái)如果發(fā)現(xiàn)缺陷,，產(chǎn)品小組將用測(cè)試數(shù)據(jù)來確保有缺陷的芯片不會(huì)被送到客戶手里。湖南芯片測(cè)試探針臺(tái)生產(chǎn)高精度探針臺(tái)：目前世界出貨量的型號(hào)吸收了很新的工藝科技例...

探針臺(tái)將參數(shù)特性不符合要求的芯片記錄下來,，在進(jìn)入后序工序前予以剔除,，極大降低器件的制造成本。探針臺(tái)主要用于晶圓制造環(huán)節(jié)的晶圓檢測(cè),、芯片研發(fā)和故障分析等應(yīng)用,。半導(dǎo)體測(cè)試可以按生產(chǎn)流程可以分為三類：驗(yàn)證測(cè)試,、晶圓測(cè)試測(cè)試、封裝檢測(cè),。晶圓檢測(cè)環(huán)節(jié)需要使用測(cè)試儀和探針臺(tái),，測(cè)試儀/機(jī)用于檢測(cè)芯片功能和性能，探針臺(tái)實(shí)現(xiàn)被測(cè)芯片與測(cè)試機(jī)的連接,，通過探針臺(tái)和測(cè)試機(jī)的配合使用對(duì)晶圓上的裸芯片進(jìn)行功能和電參數(shù)測(cè)試或射頻測(cè)試,，可以對(duì)芯片的良品、不良品的進(jìn)行篩選,。在實(shí)際的芯測(cè)試中探針卡的狀態(tài)是非常重要的,。山東自動(dòng)探針臺(tái)價(jià)格在設(shè)備方面，生產(chǎn)半導(dǎo)體測(cè)試探針的相關(guān)設(shè)備價(jià)格較高,，國(guó)內(nèi)廠商沒有足夠的資金實(shí)力,，采購(gòu)日本廠商的設(shè)備...

隨著電子技術(shù)的不斷發(fā)展，對(duì)于精密微小(納米級(jí))的微電子器件,，表筆點(diǎn)到被測(cè)位置就顯得無(wú)能為力了,。于是一種高精度探針座應(yīng)運(yùn)而生，利用高精度微探針將被測(cè)原件的內(nèi)部訊號(hào)引導(dǎo)出來,，便于其電性測(cè)試設(shè)備(不屬于本機(jī)器)對(duì)此測(cè)試,、分析。探針臺(tái)執(zhí)行機(jī)構(gòu)由探針座和探針桿兩部分組成.在探針座有X-Y-Z三向調(diào)節(jié)旋鈕,，控制固定在針座上的探針桿做三向移動(dòng),，移動(dòng)范圍12mm，移動(dòng)精度可以達(dá)到0.7微米,。這樣可以把探針很好的點(diǎn)到待測(cè)點(diǎn)上(說明探針是耗材,，一般客戶自己準(zhǔn)備)，探針探測(cè)到的信號(hào)可以通過探針桿上的電纜傳輸?shù)脚c其連接的測(cè)試機(jī)上,，從而得到電性能的參數(shù),。對(duì)于重復(fù)測(cè)試同種器件，多個(gè)點(diǎn)位的推薦使用探針臺(tái)安裝探卡進(jìn)行測(cè)試,。如...

探針臺(tái)為研究和工程實(shí)驗(yàn)室在測(cè)試運(yùn)行期間移動(dòng)通過多個(gè)溫度點(diǎn)時(shí),，提供前所未有的自動(dòng)化水平。這種新技術(shù)使探針系統(tǒng)能夠感知,，學(xué)習(xí)和反應(yīng)以多溫度和特征的極其復(fù)雜的環(huán)境,。隨著集成電路產(chǎn)品不斷進(jìn)入汽車應(yīng)用等更高發(fā)熱量的環(huán)境，在越來越寬的溫度范圍內(nèi)表征器件性能和耐用性變得越來越重要,。以前,，大多數(shù)芯片在兩個(gè)溫度點(diǎn)進(jìn)行晶圓級(jí)測(cè)試，通常為20?C（室溫）和90?C?，F(xiàn)在,，該范圍已經(jīng)擴(kuò)大到-40?C至125?C,，并且可能需要在此范圍內(nèi)的四個(gè)溫度步驟中進(jìn)行一整套測(cè)試。某些情況下需要更普遍的范圍,，如-55?C至200?C，晶圓可靠性測(cè)試可能要求高達(dá)300?C的溫度,。在檢測(cè)虛焊和斷路的時(shí)候,，探針卡用戶經(jīng)常需要為路徑電阻指定...

晶圓探針器是用于測(cè)試集成電路的機(jī)器（自動(dòng)測(cè)試設(shè)備）。對(duì)于電氣測(cè)試,，一組稱為探針卡的微觀觸點(diǎn)或探針被固定在適當(dāng)?shù)奈恢?，同時(shí)真空安裝在晶圓卡盤上的晶圓被移動(dòng)到電接觸狀態(tài)。當(dāng)一個(gè)管芯（或管芯陣列）經(jīng)過電氣測(cè)試后,，探針臺(tái)將晶片移動(dòng)到下一個(gè)管芯（或管芯）,，下一個(gè)測(cè)試就可以開始了。晶圓探針臺(tái)通常負(fù)責(zé)從載具（或盒子）裝載和卸載晶圓,，并配備自動(dòng)模式識(shí)別光學(xué)器件,，能夠以足夠的精度對(duì)準(zhǔn)晶圓，以確保晶圓上的接觸墊和探針針尖之間的準(zhǔn)確對(duì)準(zhǔn),。探針臺(tái)存放在氮?dú)夤裰?，防止探針的加快氧化。吉林溫控探針臺(tái)供應(yīng)商x-y工作臺(tái)的維護(hù)與保養(yǎng)：無(wú)論是全自動(dòng)探針測(cè)試臺(tái)還是自動(dòng)探針測(cè)試臺(tái),，x-y向工作臺(tái)都是其很重心的部分,。有數(shù)據(jù)表明探針測(cè)...

探針臺(tái)需要特別注意的是在未加壓縮空氣時(shí)不可強(qiáng)行拉動(dòng)動(dòng)子，以免造成定子及動(dòng)子的損傷,。平面電機(jī)應(yīng)使用在環(huán)境溫度15～25℃,，相對(duì)濕度小于50％的環(huán)境中，其所需的壓縮空氣必須經(jīng)過干燥過濾處理且與環(huán)境空氣溫度差值小于5℃,，氣壓為0．4±0．04MPa,。相對(duì)于平面電機(jī)工作臺(tái)，絲杠導(dǎo)軌結(jié)構(gòu)的工作臺(tái)結(jié)構(gòu)組成較復(fù)雜,，工作臺(tái)由上層（x向）及下層（y向）兩部分組成,。工作臺(tái)由兩個(gè)步進(jìn)電機(jī)分別驅(qū)動(dòng)x、y向精密滾珠絲杠副帶動(dòng)工作臺(tái)運(yùn)動(dòng),，導(dǎo)向部分采用精密直線滾動(dòng)導(dǎo)軌,。上海勤確科技有限公司以完善的服務(wù)和改變?yōu)橹辽献非蟆：颖弊詣?dòng)探針臺(tái)一般多少錢探針臺(tái)大家不陌生了,，是我們半導(dǎo)體實(shí)驗(yàn)室電性能測(cè)試的常用設(shè)備,，也是各大實(shí)驗(yàn)室的熟客。...

x-y工作臺(tái)的維護(hù)與保養(yǎng)：無(wú)論是全自動(dòng)探針測(cè)試臺(tái)還是自動(dòng)探針測(cè)試臺(tái),，x-y向工作臺(tái)都是其很重心的部分,。有數(shù)據(jù)表明探針測(cè)試臺(tái)的故障中有半數(shù)以上是x-y工作臺(tái)的故障,，而工作臺(tái)故障有許多是對(duì)其維護(hù)保養(yǎng)不當(dāng)或盲目調(diào)整造成的，所以對(duì)工作臺(tái)的維護(hù)與保養(yǎng)就顯得尤為重要?，F(xiàn)在只對(duì)自動(dòng)探針測(cè)試臺(tái)x-y工作臺(tái)的維護(hù)與保養(yǎng)作一介紹,。平面電機(jī)x-y步進(jìn)工作臺(tái)的維護(hù)與保養(yǎng)：平面電機(jī)由定子和動(dòng)子組成，它和傳統(tǒng)的步進(jìn)電機(jī)相比其特殊性就是將定子展開,，定子是基礎(chǔ)平臺(tái),，動(dòng)子和定子間有一層氣墊，動(dòng)子浮于氣墊上,，而可編程承片臺(tái)則安裝在動(dòng)子之上,。這種結(jié)構(gòu)的x-y工作臺(tái)，由于動(dòng)子和定子間無(wú)相對(duì)摩擦故無(wú)磨損,，使用壽命長(zhǎng),。如果發(fā)現(xiàn)問題，就需...

探針臺(tái)工作臺(tái)由兩個(gè)步進(jìn)電機(jī)分別驅(qū)動(dòng)x,、y向精密滾珠絲杠副帶動(dòng)工作臺(tái)運(yùn)動(dòng),，導(dǎo)向部分采用精密直線滾動(dòng)導(dǎo)軌。由于運(yùn)動(dòng)部分全部采用滾動(dòng)功能部件,，所以具有傳動(dòng)效率高,、摩擦力矩小，使用壽命長(zhǎng)等特點(diǎn),。這種結(jié)構(gòu)的工作臺(tái)應(yīng)放置在溫度23±3℃,，濕度≤70%，無(wú)有害氣體的環(huán)境中,，滾珠絲杠,、直線導(dǎo)軌應(yīng)定期加精密儀表油，但不可過多,，值得指出的是,，這種結(jié)構(gòu)的工作臺(tái)在裝配過程中，從直線導(dǎo)軌的直線性,，上下層工作臺(tái)之間的垂直度以及工作臺(tái)的重復(fù)性,，定位精度等都是用專業(yè)的儀器儀表調(diào)整，用戶一般情況不能輕易改變,，一旦盲目調(diào)整后很難恢復(fù)到原來的狀態(tài),，所以對(duì)需要調(diào)整的工作臺(tái)應(yīng)有專業(yè)生產(chǎn)廠家或經(jīng)過培訓(xùn)的專業(yè)人員完成。無(wú)論是全自動(dòng)探針測(cè)試...

盡管半導(dǎo)體測(cè)試探針國(guó)產(chǎn)化迫在眉睫,，但從技術(shù)的角度來看,，要想替代進(jìn)口產(chǎn)品卻并不容易。業(yè)內(nèi)人士指出,，國(guó)內(nèi)半導(dǎo)體測(cè)試探針還只能用于要求不高的測(cè)試需求,，比如可靠性測(cè)試國(guó)產(chǎn)探針可以替代很多,，但功能性測(cè)試和性能測(cè)試還有待突破。彈簧測(cè)試探針主要的技術(shù)是精微加工和組裝能力,，涉及精微加工設(shè)備,、經(jīng)驗(yàn)、工藝能力缺一不可,。值得注意的是,，由于半導(dǎo)體測(cè)試探針市場(chǎng)一直被國(guó)外廠商占據(jù)，同時(shí)也實(shí)施了技術(shù)封鎖,，國(guó)內(nèi)并沒有相應(yīng)的技術(shù)人才，包括生產(chǎn)人員和設(shè)計(jì)人員都缺乏,。國(guó)內(nèi)大部分測(cè)試探針廠商基本不具備全自動(dòng)化生產(chǎn)制造能力,。探針測(cè)試這一過程是非常精密的，要有很高的專業(yè)水平和經(jīng)驗(yàn)才能完成,。山東全自動(dòng)探針臺(tái)生產(chǎn)探針臺(tái)的作用是什么,？探針臺(tái)可...

在設(shè)備方面，生產(chǎn)半導(dǎo)體測(cè)試探針的相關(guān)設(shè)備價(jià)格較高,，國(guó)內(nèi)廠商沒有足夠的資金實(shí)力,，采購(gòu)日本廠商的設(shè)備。另一方面,，對(duì)于半導(dǎo)體設(shè)備而言,，產(chǎn)業(yè)鏈各個(gè)環(huán)節(jié)均會(huì)采購(gòu)定制化的設(shè)備，客戶提出自身需求和配置,，上游設(shè)備廠商通過與大型客戶合作開發(fā),，生產(chǎn)出經(jīng)過優(yōu)化的適合該客戶的設(shè)備。因此,，即使國(guó)產(chǎn)探針廠商想采購(gòu)日本設(shè)備廠商的專業(yè)設(shè)備,，也只能得到標(biāo)準(zhǔn)化的產(chǎn)品。在原材料方面,，國(guó)產(chǎn)材質(zhì),、加工的刀具等也不能達(dá)到生產(chǎn)半導(dǎo)體測(cè)試探針的要求，同時(shí)日本廠商在半導(dǎo)體上游原材料方面占據(jù)的優(yōu)勢(shì),，其提供給客戶的原材料也是分等級(jí)的,，包括A級(jí)、B級(jí),、S級(jí),，需要依客戶的規(guī)模和情況而定。探針臺(tái)存放在氮?dú)夤裰?，防止探針的加快氧化,。江蘇芯片測(cè)試探針臺(tái)生產(chǎn)...

半導(dǎo)體生產(chǎn)過程中的探測(cè),，可略分為三大類：1.參數(shù)探測(cè)：提供制造期間的裝置特性測(cè)量；2.晶圓探測(cè)：當(dāng)制造完成要進(jìn)行封裝前,，在一系列的晶圓上(wafersort)測(cè)試裝置功能,；3.以探針臺(tái)為基礎(chǔ)的晶圓處理探測(cè)(FinalTest)：在出貨給顧客前，對(duì)封裝完成的裝置做后的測(cè)試,。晶圓在通過基本的特性測(cè)試后,，即進(jìn)入晶圓探測(cè)階段，此時(shí)需要用復(fù)雜的機(jī)器,、視覺及軟件來偵測(cè)晶圓上的每顆裸晶,，精確度約在±2.0μm之間。將晶圓探針臺(tái)的輸入輸出探針墊片(I/Opads)放在接腳和探針卡正確對(duì)應(yīng)的晶圓后,，探針臺(tái)會(huì)將晶圓向上挪動(dòng),，使其電氣和連接于測(cè)試儀上的探針卡接觸，以進(jìn)行探測(cè),。當(dāng)測(cè)試完成,，則會(huì)自動(dòng)將下一個(gè)待測(cè)晶圓替換...

隨著半導(dǎo)體行業(yè)的迅速發(fā)展，半導(dǎo)體產(chǎn)品的加工面積成倍縮小,，復(fù)雜程度與日俱增,，生產(chǎn)半導(dǎo)體產(chǎn)品所需的制造設(shè)備需要綜合運(yùn)用機(jī)械、光學(xué),、物理,、化學(xué)等學(xué)科技術(shù)，具有技術(shù)壁壘高,、制造難度大及研發(fā)投入高等特點(diǎn),。探針臺(tái)屬于重要的半導(dǎo)體測(cè)試裝備，在整個(gè)半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)的多個(gè)環(huán)節(jié)起著重要作用,，是晶圓廠和元器件封測(cè)企業(yè)的重要設(shè)備之一,。隨著自動(dòng)化技術(shù)的飛速發(fā)展，市場(chǎng)對(duì)自動(dòng)化探針臺(tái)需求旺盛,。自動(dòng)化探針臺(tái)搭配測(cè)試機(jī)能夠?qū)Τ鰪S晶圓片的電氣參數(shù),、光學(xué)參數(shù)進(jìn)行測(cè)試，根據(jù)測(cè)試結(jié)果評(píng)定上一道工序的工藝質(zhì)量,，并指導(dǎo)下一道工序,。探針臺(tái)存放在氮?dú)夤裰校乐固结樀募涌煅趸?。貴州射頻探針臺(tái)加工廠家探針臺(tái)需要特別注意的是在未加壓縮空氣時(shí)不可強(qiáng)行拉動(dòng)動(dòng)...

通常,，參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)將電流或電壓輸入被測(cè)器件（DUT），然后測(cè)量該器件對(duì)于此輸入信號(hào)的響應(yīng)。這些信號(hào)的路徑為：從測(cè)試儀通過電纜束至測(cè)試頭,，再通過測(cè)試頭至探針卡,，然后通過探針至芯片上的焊點(diǎn)，到達(dá)被測(cè)器件,，并后沿原路徑返回測(cè)試儀器,。如果獲得的結(jié)果不盡如人意，問題可能是由測(cè)量?jī)x器或軟件所致,，也可能是其它原因造成,。通常情況下，測(cè)量?jī)x器引進(jìn)一些噪聲或測(cè)量誤差,。而更可能導(dǎo)致誤差的原因是系統(tǒng)的其它部件,，其中之一可能是接觸電阻，它會(huì)受探針參數(shù)的影響,，如探針的材料,、針尖的直徑與形狀、焊接的材質(zhì),、觸點(diǎn)壓力,、以及探針臺(tái)的平整度,。此外,，探針尖磨損和污染也會(huì)對(duì)測(cè)試結(jié)果造成極大的負(fù)面影響。測(cè)試信號(hào)的完整性需要高質(zhì)量的探針接...

手動(dòng)探針臺(tái)的使用方式：待測(cè)點(diǎn)位置確認(rèn)好后,再調(diào)節(jié)探針座的位置,將探針裝上后可眼觀先將探針移到接近待測(cè)點(diǎn)的位置旁邊,再使用探針座X-Y-Z三個(gè)微調(diào)旋鈕,慢慢的將探針移至被測(cè)點(diǎn),此時(shí)動(dòng)作要小心且緩慢,，以防動(dòng)作過大誤傷芯片,，當(dāng)探針針尖懸空于被測(cè)點(diǎn)上空時(shí)，可先用Y軸旋鈕將探針退后少許,，再使用Z軸旋鈕進(jìn)行下針,，然后則使用X軸旋鈕左右滑動(dòng)，觀察是否有少許劃痕,，證明是否已經(jīng)接觸,。確保針尖和被測(cè)點(diǎn)接觸良好后，則可以通過連接的測(cè)試設(shè)備開始測(cè)試,。常見故障的排除當(dāng)您使用本儀器時(shí),，可能會(huì)碰到一些問題，下表列舉了常見的故障及解決方法,。手動(dòng)探針臺(tái)技術(shù)參數(shù),。探針臺(tái)的維護(hù)與保養(yǎng)就顯得尤為重要。江蘇自動(dòng)探針臺(tái)廠家探針臺(tái)是用于檢...

在設(shè)備方面,，生產(chǎn)半導(dǎo)體測(cè)試探針的相關(guān)設(shè)備價(jià)格較高,，國(guó)內(nèi)廠商沒有足夠的資金實(shí)力，采購(gòu)日本廠商的設(shè)備,。另一方面,，對(duì)于半導(dǎo)體設(shè)備而言,，產(chǎn)業(yè)鏈各個(gè)環(huán)節(jié)均會(huì)采購(gòu)定制化的設(shè)備，客戶提出自身需求和配置,，上游設(shè)備廠商通過與大型客戶合作開發(fā),，生產(chǎn)出經(jīng)過優(yōu)化的適合該客戶的設(shè)備。因此,，即使國(guó)產(chǎn)探針廠商想采購(gòu)日本設(shè)備廠商的專業(yè)設(shè)備,，也只能得到標(biāo)準(zhǔn)化的產(chǎn)品。在原材料方面,，國(guó)產(chǎn)材質(zhì),、加工的刀具等也不能達(dá)到生產(chǎn)半導(dǎo)體測(cè)試探針的要求，同時(shí)日本廠商在半導(dǎo)體上游原材料方面占據(jù)的優(yōu)勢(shì),，其提供給客戶的原材料也是分等級(jí)的,，包括A級(jí)、B級(jí),、S級(jí),，需要依客戶的規(guī)模和情況而定。探針臺(tái)測(cè)試時(shí)參數(shù)測(cè)不穩(wěn),，為了不使它氧化,，我們平時(shí)必須保護(hù)好探針卡...

半導(dǎo)體測(cè)試是半導(dǎo)體生產(chǎn)過程中的重要環(huán)節(jié)，其測(cè)試設(shè)備包括測(cè)試機(jī),、分選機(jī),、探針臺(tái)。其中,，測(cè)試機(jī)是檢測(cè)芯片功能和性能的專業(yè)設(shè)備,，分選機(jī)和探針臺(tái)是將芯片的引腳與測(cè)試機(jī)的功能模塊連接起來的專業(yè)設(shè)備，與測(cè)試機(jī)共同實(shí)現(xiàn)批量自動(dòng)化測(cè)試,。受益于國(guó)內(nèi)封裝測(cè)試業(yè)產(chǎn)能擴(kuò)張,，半導(dǎo)體測(cè)試設(shè)備市場(chǎng)快速發(fā)展。作為半導(dǎo)體封測(cè)行業(yè)三大設(shè)備之一,，探針臺(tái)主要應(yīng)用于半導(dǎo)體行業(yè)以及光電行業(yè)的晶圓,、芯片等器件的測(cè)試，研發(fā)難度大,，國(guó)產(chǎn)化率低,，進(jìn)口依賴度高，它的品質(zhì)和精度直接決定測(cè)試可靠性與否,。探針材質(zhì),、探針直徑、光束長(zhǎng)度、和尖錐長(zhǎng)度都在決定頂端壓力時(shí)起重要的作用,。北京全自動(dòng)探針臺(tái)要多少錢晶圓測(cè)試是在半導(dǎo)體器件制造過程中執(zhí)行的一個(gè)步驟,。在此步...

相對(duì)于平面電機(jī)工作臺(tái)，絲杠導(dǎo)軌結(jié)構(gòu)的工作臺(tái)結(jié)構(gòu)組成較復(fù)雜,，工作臺(tái)由上層(x向)及下層(y向)兩部分組成,。工作臺(tái)由兩個(gè)步進(jìn)電機(jī)分別驅(qū)動(dòng)x、y向精密滾珠絲杠副帶動(dòng)工作臺(tái)運(yùn)動(dòng),，導(dǎo)向部分采用精密直線滾動(dòng)導(dǎo)軌,。由于運(yùn)動(dòng)部分全部采用滾動(dòng)功能部件，所以具有傳動(dòng)效率高,、摩擦力矩小,，使用壽命長(zhǎng)等特點(diǎn)。這種結(jié)構(gòu)的工作臺(tái)應(yīng)放置在溫度23±3℃,，濕度≤70%,，無(wú)有害氣體的環(huán)境中，滾珠絲杠,、直線導(dǎo)軌應(yīng)定期加精密儀表油,，但不可過多，值得指出的是,，這種結(jié)構(gòu)的工作臺(tái)在裝配過程中,，從直線導(dǎo)軌的直線性，上下層工作臺(tái)之間的垂直度以及工作臺(tái)的重復(fù)性,。探針臺(tái)測(cè)試時(shí)參數(shù)測(cè)不穩(wěn),，為了不使它氧化,，我們平時(shí)必須保護(hù)好探針卡,，把它放在卡盒里。河...